Resistive Switching Statistics in MIM structures for Non-volatile memory applica
Autor: LIAN, XIAOJUAN
Sección: TECNOLOGÍA - Electricidad y Electrónica
Resistive Switching Statistics in MIM structures for Non-volatile memory applica
26,00€ IVA INCLUIDO
- Editorial:
- UNIVERSIDAD DE BARCELONA.
- Publicación:
- 08/11/2014
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Resistive Switching Statistics in MIM structures for Non-volatile memory applica
- Editorial:
- UNIVERSIDAD DE BARCELONA.
- Fecha Publicación:
- 08/11/2014
- Formato:
- Cambiar formato
- ISBN:
978-84-490-4537-0
- EAN:
9788449045370
- Nº páginas:
- 70
- Colección:
- Lengua:
- INGLES
- Alto:
- 0 mm
- Ancho:
- 0 mm
- Sección:
- TECNOLOGÍA
- Sub-Sección:
- Electricidad y Electrónica
LIAN, XIAOJUAN
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